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射线探伤单晶定向检查的基本原理

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射线探伤单晶定向检查的基本原理

发布日期:2016-08-17 00:00 来源:http://www.ddxdf.com 点击:

单晶定向在现代工业中广泛应用射线照相和计算机实时成像技术来发现工件内部存在的缺陷,分析其形成的原因的规律,评价这些缺陷对工件使用性能的影响,以便改进设计或工艺,进一步提高产品质量,降低生产成本,避免恶性事故的发生。

利用射线对材料具有一定的穿透能力及其在穿透材料过程中,不同物质和不同的物体结构对射线衰减程度各不相同,从而使缺陷在照相胶片或电视荧光屏上形成影像,借以判断工件内部的缺陷和完整性。辐射源照射工件,X射线胶片放在工件的底面,由于有缺陷的材料与没缺陷的材料吸收射线不同,所以工件的缺陷显影在底片上,借助于缺陷的图像,可以判断工件的质量。

在蓝宝石晶体加工行业,为超过50家的国内外生产企业提供设备和服务,尤其在大尺寸蓝宝石晶球定向及晶体表面缺陷检测方面提供了专用设备。其中蓝宝石晶体定向设备行业覆盖率为80%,半导体级硅单晶专用设备行业覆盖率为20%,太阳能级硅单晶专用设备行业覆盖率为15%,压电晶体专用设备行业覆盖率为20%,实验室专用设备行业覆盖率为30%。


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