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X射线定向仪的历史发展与现状

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X射线定向仪的历史发展与现状

发布日期:2016-12-15 13:48 来源:http://www.ddxdf.com 点击:

        1895年德国科学家伦琴发现了X射线,1912年德国科学家劳厄发现了X射线干涉现象,同年英国科学家拉格父子发表了闻名的布拉格方程,从而奠定了X射线单晶体定向仪的基础,以后人们利用X射线及其衍射原理,对单晶材料进行定向与丈量,并逐步研制成专用仪器。这种X射线定向仪器经由约40年的历程,如今已发展到第三代。

         第一代为X射线定向仪普通精度单晶衍射型,丈量精度正负30,它由高压发生器,X射线管,滤片,准直狭缝,样品测试台,测角仪,射线探测器等构成。

         第二代为高精度双晶衍射型,丈量精度进步到正负30,这种类型仪器在结构上,增加一个单色器,目的在于使射线管产生的Ka特征谱线更加尖利,单色话,以进步丈量精度,同时无需再加滤片。

         第三代为自动化型。上述两代定向仪都为手摇式。

         X射线定向仪属光机电一体化高科技精密仪器,国外只有德、美、日等少数国家出产,并自始至今地占据我国相称部门市场。


X射线定向仪

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