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X射线晶体定向仪试样本身的误差因素及措施

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X射线晶体定向仪试样本身的误差因素及措施

发布日期:2018-01-09 00:00 来源:http://www.ddxdf.com 点击:

       X射线单晶定向仪试样本身的误差因素:

      ①试样易磨性。有的试样易磨性较差,对测定构成影响。

      ②试样成分。有的试样基本组成成分与标准试样组成成分不一致,也会影响测定结果。

      ③基体效应。基体中其它元素对分析元素的影响,包括吸收和增强效应,吸收效应直接影响对分析元素的激发和分析元素的探测强度。增强效应使分析元素特征辐射增强。

      ④不均匀性效应。X射线强度与颗粒大小有关,大颗粒吸收大,小颗粒吸收小,这是试样粒度的影响。

      ⑤谱线干扰。各谱线系中谱线产生重叠、干扰,还有来自不同衍射级次的衍射线之间干扰。

       X射线晶体定向仪避免误差的措施:

       对于上述几方面误差,应具体情况具体分析予以克服。首先应将样品磨细、压实以减少试样的不均匀性,其次是选择无干扰的谱线、降低电压至干扰元素激发电压以下,选择适当分光晶体、计数管、准直器或调整脉冲高度分析器、提高分辩本领,在分析晶体和探测器之间放置滤光片,滤去或减弱干扰谱线。第三是 严格按X射线晶体定向仪仪器设备管理办法安装、调试好仪器设备,避免仪器误差。第四是严格按照操作规程认真操作,避免人为的操作误差。


X射线单晶定向


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